به گزارش یولن، به نقل از ایسنا، حسگر مبتنی بر هوش مصنوعی او با تجزیه و تحلیل طول موج‌های نوری که از میوه‌ها و سبزیجات منعکس می‌شود، به دقت تشخیص بیش از ۸۵ درصدی دست یافته است.
سیریش سوباش(Sirish Subash) دانش‌آموز کلاس نهم در جورجیای آمریکاست که به لطف اختراع دستگاهی که بقایای آفت‌کش‌ها را روی محصولات تشخیص می‌دهد، برنده چالش معتبر دانشمندان جوان ۳M شده است.
دستاورد او یک جایزه نقدی ۲۵ هزار دلاری و کسب عنوان «دانشمند جوان برتر آمریکا» است، افتخاری که برای نوآورترین ذهن‌های جوان در علم رقم می‌خورد.
دستگاه سیریش که PestiSCAND نام دارد، از هوش مصنوعی و طیف‌سنجی نوری برای اسکن محصولات به منظور شناسایی بقایای آفت‌کش‌ها استفاده می‌کند و به یک مشکل بهداشتی مهم که بر ایمنی مواد غذایی تأثیر می‌گذارد، رسیدگی می‌کند.
تشخیص مبتنی بر هوش مصنوعی با قیمت مقرون به صرفه
طراحی PestiSCAND یک حسگر و یک پردازنده مبتنی بر هوش مصنوعی را ادغام می‌کند که به آن اجازه می‌دهد تا به دقت تشخیص قابل توجه بیش از ۸۵ درصدی دست یابد. این دقت بالا با هدف سیریش برای اطمینان از اثربخشی و سرعت در تشخیص آفت‌کش‌ها مطابقت دارد.
او قصد دارد این فناوری را در دسترس عموم قرار دهد و هر دستگاه را با قیمت ۲۰ دلار به فروش برساند.
سیریش امیدوار است که PestiSCAND را تا زمانی که وارد دانشگاه می‌شود، به بازار عرضه کند و به مصرف کنندگان این امکان را بدهد که ابزاری مقرون به صرفه و با استفاده آسان برای انتخاب غذای ایمن‌تر داشته باشند.
سیریش به عنوان یکی از ۹ فینالیست این رقابت، چهار ماه گذشته را تحت هدایت یک دانشمند که به عنوان مربی او در کنارش بود، صرف اصلاح نمونه اولیه خود کرد. این مربی به او کمک کرد تا از چالش‌ها عبور کند و اختراع خود را برای کاربرد در دنیای واقعی کامل کند.
نتایج کار او در مقر جهانی ۳M در مینه‌سوتا به نمایش گذاشته شد، جایی که او عنوان رویایی دانشمند جوان برتر آمریکا را به دست آورد.
توری کلارک(Torie Clarke) مدیر ارشد روابط عمومی ۳M گفت: من تحت تأثیر فینالیست‌های چالش دانشمندان جوان امسال قرار گرفتم که توانایی باورنکردنی در ایجاد راه‌حل‌های خلاقانه برای برخی از مهم‌ترین چالش‌های جهان از خود نشان داده‌اند.
۵۸۵۸
